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KI-3020D - 液晶表示装備 -
KI-3020A - 外部オシロスコープ接続構成 -
KI-3020Dは, 2ピン/3ピンの半導体素子の特性をデジタル表示し, 素子をテストするための機器です。ダイオード, NPN/PNPトランジスタ, FET, IGBT, UJT, SCR, トライアック(TRIAC)などの半導体素子の特性を測定することができます。
測定結果は本体に組み込まれた液晶パネルに表示されます。測定結果の表示にオシロスコープやパソコンを必要としません。
希望の測定条件, デバイスタイプ, 電圧バイアス, 電流のステップなどをタッチスクリーンのボタンにより直感的に操作することができます。
テストソケットを2セット使用することができます。これにより, 2つのデバイスの測定結果を切り換えて, 時間を要することなくテストおよび特性の比較をおこなうことができます。
得られたすべての特性カーブデータは液晶パネルに表示され, パソコンに保存することができます。
[特徴]
1. 液晶パネルを搭載, パソコンを必要としません
2. 液晶パネル上に8セットの特性カーブを秒オーダーで表示
3. 外部接続の表示機器により計測結果をリアルタイム表示
4. 保存および最大8セットの保存済みデータの再読込機能, データの更新および比較することが可能
5. 2セットのテストソケットを使用可能, 時間を要することなく測定および特性カーブの比較が可能
6. USBポートを経由してデータをパソコンに保存
[仕様]
1. コレクタ Collector (ドレイン Drain)スイープ電圧
(1) 周波数 : 200Hz
(2) 電圧 : 8 セット-10V/ 20V/ 30V/ 40V/ 50V/ 100V/ 150V/ 200V
(3) 電流 : 10V/ 20V/ 30V/ 40V ; 1.5A Max.
50V/ 100V/ 150V/ 200V ; 300mA Max.
(4) 制御 : 液晶パネル(touch screen)
およびトレースエンコーダー (trace encoder)
(5) X軸スケール : 外部調整
2. ステップジェネレーター
(1) ステップ数 : 8
(2) ステップあたりの電流 (I ) : b
0.1mA / 0.2mA / 0.5mA / 1.0mA / 2.0mA
(3) ステップあたりの電圧 (V ) : 0.2V / 0.7V /1.4V b
(4) 制御 :液晶パネルおよび トレースエンコーダー
3. 液晶パネル
(1) 画面 : 7インチカラーTFT液晶ディスプレイ
(2) インターフェース : タッチスクリーン
(3) 解像度 : 800 x 480 ピクセル
4. ヒューマンマシンインターフェース
(1) テストモード: デジタルモードdigital mode (1回の測定)
スコープモード (リアルタイム連続測定)
(2) テストパワー : パワーモード (ハイパワー素子)
シグナルモード (小信号素子)
(3) 測定カーブ数 : 8 カーブ
(4) ディスプレイモード : シングル/ダブルディスプレイモード
(5) 測定カーブあたりのデータポイント数 : 512
(6) サンプルレート : < 1秒 / 8 カーブ
(7) カーブトレース : 液晶パネル (コースカーブトレース; coarse trace)
エンコーダー (ファインカーブトレース; fine trace)
(8) 直流電流増幅率 hfe : 対応するバイアスで3番目と5番目の
測定カーブ間のhfeを自動的に測定
5. 半導体素子 : ダイオード, ツェナーダイオード, MOS-FET,
ジャンクションFET(J-FET), NPN/PNP トランジスタ, IGBT, UJT,
SCR, プログラマブルユニジャンクショントランジスタ(PUT),
ダイアック(DIAC), トライアック(TRIAC)
6. インターフェース
(1) スコープ(Scope) : vertical, horizontal, ground
(2) USB ポート, type B : USBポートを経由して測定データを
パソコンに転送し保存
7. オプション, 素子測定ボード (製品名: KI-3020D-001)
28P ZIF を介してTO-3,TO-220パッケージの素子を測定可能
[総合仕様]
1. 電圧 : 100V 50Hz / 60Hz
2. 筐体 : (150(H) x 300 (W) x 260(D))mm
3. 質量 : 7.4kg
[半導体デジタルカーブトレーサー KI-3020A - 外部オシロスコープ接続構成 - ]
[特徴]
1. 半導体デバイスの特性を素早く確認
2. 外部に接続した, オシロスコープ画面上に半導体デバイスの特性曲線を表示します
モデルKI-3020Aは, 以下の半導体デバイスをテストすることができます
- トランジスタ-NPN, PNP
- FETおよびMOSFET
- SCR(サイリスタ)
- UJT
- DIACおよびTRIAC
- ダイオード(整流器, ツェナーおよびトンネルダイオード)
[製品概要]
KI-3020Aは, 半導体デバイスの特性曲線を簡単に計測することができます。
(特性表示のため同期機能のあるオシロスコープが別途必要です)
FET, ダイオード, ツェナーダイオード, SCR, トライアック, ダイアック, UJTなどの半導体素子の特性曲線を表示します。これらの曲線を調べることにより, ゲイン(β), カットオフ電流, 漏れ電流, 出力アドミッタンス, その他の測定可能な仕様など, 測定するデバイスの動作特性を判断できます。 一般的なトランジスタテスターに比べて優れた品質確認機能を有しています。
生産ラインとラボでの半導体テスト, フィールドエンジニアによる保守・修理(フィールドサービス)に適しています。
[仕様]
1. スイープ電圧(コレクタ, ドレイン)
(1) 周波数 120Hz または 100Hz
(2 line frequency)
(2) 電圧ステップ, 11段階
5V, 10V, 20V, 30V, 40V, 50V, 60V, 80V, 100V, 150V および 200V
精度 +/-10%
(または連続可変)
(3) スイープ波形全波整流
(4) 電流 500mA Max.
2. ステップジェネレーター
(1) ステップ数 7
(2) ステップあたりの電流
10μA , 20μA , 50μA; 0.1mA , 0.2mA , 0.5mA,1.0mA, 2.0mA;
精度 +/-5%
(3) ステップあたりの電圧
0.1V, 0.2V, 0.5V; 精度 +/-5%
(4) 外部バイアス one curve display
3. 極性スイッチ
NPN, PNP, DIODE の3モード
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